（1）温升试验试验目的：测定继电器线圈温升是否超过极限值。
试验方法：在规定的温度下，将继电器放置在20×2020cm的封闭箱体内，触点加额定负载电流，线圈加规定的激励值，当线圈达到热平衡时，测得线圈电阻，求出线圈温升。
说明：
一般情况下，环境温度为室温，线圈加额定电压。有些厂家采用环境最高温度为测试温度，得出线圈温升较低。有些厂家采用线圈加110%额定电压测试，得出线圈温升较高。继电器线圈达到稳定温升时间约2小时。
（2）电寿命试验方法：在标准试验条件下，触点加规定负载，线圈激励值为额定电压，以规定的负载比和通断频率进行触点开断循环，在完成10%、50%、75%、100%的规定循环次数时，检查触点的工作情况，按规定失效判据判断继电器是否达到规定的电寿命要求。
说明：
1）负载比一般为50%，也可以15%、25%、40%、60%.
2）通断频率一般选用600次/小时、1200次/小时、1800次/小时，国外也选用360次/小时。
3）失效判据：触点永久粘接、触点不通、吸合电压高于最大吸合电压、释放电压低于最小释放电压、绝缘电阻不良等。
（3）机械寿命试验目的：评定继电器在额定激励条件下，在全部扩展的循环次数内的机械性能。
试验方法：在常温状态下，触点不加负载，线圈激励值为额定电压，以规定的通断频率进行触点开断循环，在完成10%、50%、75%、100%的规定循环次数时，检查触点的工作情况，按规定失效判据判断继电器是否达到规定的机械寿命要求。
说明：
1）通断频率一般选用18000次/小时。
2）失效判据：触点不通、吸合电压高于最大吸合电压、释放电压低于最小吸合电压、绝缘电阻不良等。
3）循环次数：一般为106次或107次。
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